募集要項
【東京】顕微鏡・X線装置を活用した半導体不良解析※30
- 技術研修あり
- 経験者優遇
半導体デバイスの品質・信頼性向上を目的とした不良解析業務をご担当いただきます。
■業務詳細
・顕微鏡・X線観察装置を用いた検査業務
・薬品を使用した半導体パッケージの開封作業
・テスタを用いた半導体デバイスの良否判定
・不良解析装置を活用した故障箇所の特定
・解析結果の整理および報告資料作成
・関係部門との情報共有・改善提案
※検査から原因特定までを担う、半導体品質を支える重要なポジションです。
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技術・資格 |
■必須 |
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給与 |
想定年収:420万円~510万円 |
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勤務地 |
東京都小平市 |
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勤務時間 |
・就業時間:9:00~18:00(休憩60分) |
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休日・休暇 |
※休日・休暇は、プロジェクト・配属先企業のカレンダーによる |
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待遇・福利厚生 |
◆健康保険 |
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留意事項 |
試用期間3ヶ月 条件変更無し |
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管理No. |
37789 |